东莞市华测仪器设备有限公司
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设备用途:
用测试各类电子电工产品、零部件、材料在快速的经过极高温和极低温的热胀冷缩引起的化学和物理变化对其造成的损伤,真实的模拟其环境变化,检验其可靠性和稳定性,找出缺陷,以便改进。
试验参考标准:
GJB 150.5A-2009温度冲击试验
GJB 360B-2009温度冲击试验
GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验第2部分:试验方法温度变化试验导则
GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
设备特点:
*箱体钣金:
内箱:304不锈钢或镜面不锈钢;
外箱:304不锈钢或冷轧钢板双面烤箱,任由客户选配,可满足不同试验室风格要求;
保温层:高密度聚氨酯+玻璃纤维棉整体发泡,厚度100mm;
*箱体结构:
设备为二箱式,一箱为热冲击区,二箱为冷冲击区,通过提篮上升和降落将样品进行高温和低温度冲击;
*制冷系统四大件:
压缩机:根据客户温度条件订制法国泰康、德国比泽尔、美国谷轮、德国博客等国际知名高品质压缩机;
冷凝器:根据客户温度条件选用国际知名品牌特殊订制;
蒸发器:根据客户温度条件选用国际知名品牌特殊订制;
节流阀:意大利卡士妥或美国Sporlan;
*电控系统:
继电器、接触器:施耐德或欧姆龙;
发热丝:钛合金特殊订制;
控制器:进口工业级微电脑控制器,抗积分饱和PID,BTC平衡调温控制方式,BTHC平衡调温调湿控制方式;
设备规格:
设备型号 | 内箱尺寸(单位:cm) | 外箱尺寸(单位:cm) | 温度冲击范围 |
HC-H-50 | W35×H40×D36 | W110×H190×D142 | 高温冲击:+50℃~+150℃(最高到200℃) 低温冲击:A:-10℃~-40℃ B:-10℃~-55℃ C:-10℃~-65℃
|
HC-H-80 | W50×H40×D40 | W125×H190×D148 | |
HC-H-150 | W60×H50×D50 | W135×H200×D158 | |
HC-H-252 | W70×H60×D60 | W145×H210×D168 | |
HC-H-512 | W80×H80×D80 | W155×H230×D188 | |
HC-H-1000 | W100×H100×D100 | W275×H250×D208 | |
HC-H- | 按客户要求订制 | 按客户要求订制 |
性能参数:
温度分辨率 | 0.1℃ |
温度偏差 | ±2℃ 出风口处测量 |
温度均匀度 | ±3℃ 空载测量 |
温度波动度 | ±1℃ |
温度范围 | -65℃~+150℃(最高到+200℃) |
测试区温度范围 温度冲击模式 | 高温:+60℃~+150℃,测试时间:≥25min以上 低温:-10℃~-65℃,测试时间:≥25min以上 |
蓄热区升温时间 | 自常温到+220℃,约40分钟 |
蓄冷区降温时间 | 自常温到-75℃,约65分钟 |
温度恢复时间 | 吊兰移动时间:10秒以内 测试区温度恢复时间:5分钟 |
冲击过程(如图所示)
| 绿色为高温区储热曲线, 红色为试验区冲击曲线, 蓝色为低温区储冷曲线 |
设备冷却方式 | 风冷式或水冷式(水冷式需使用到冷却循环水或安装冷却水塔) |